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SATAの理性的な試験装置の破片の認識テスト機械

中国 Dongguan Haida Equipment Co.,LTD 認証
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SATAの理性的な試験装置の破片の認識テスト機械

SATA Intelligent Test Equipment Chip Recognition Test Machine
SATA Intelligent Test Equipment Chip Recognition Test Machine

大画像 :  SATAの理性的な試験装置の破片の認識テスト機械

商品の詳細:
起源の場所: 中国
ブランド名: Haida
証明: CE,ISO
モデル番号: HD-6-SATA
お支払配送条件:
最小注文数量: 1set
価格: US$5,000.00-13,000.00 / Piece
パッケージの詳細: 強い木の場合
受渡し時間: 順序の後の8日
支払条件: L/C、D/A、D/P、T/T、ウェスタン・ユニオン、MoneyGram
供給の能力: 150かのセット/月
詳細製品概要
温度較差: -70度から+180度 タイプのテスト: 異常な電源異常テストおよび老化するテスト
制御: ソフトウェアを使用してすべてのテストのインテリジェント制御 主要なハードウェア: テストPCテスト マザーボード

SATAの理性的な試験装置の破片の認識テスト機械


主要特点:

  1. SATAプロダクトのテストのためのサポート;

  2. SATAのために、例えば96部分作り出される、試験片124部分、196部分、256部分、等の数のカスタム化のためのサポート;

  3. マイクロおよび小さいカスタム化、例えば6、12、18、等の開発のためのサポート;

  4. サポート(- 70度から+180度)テスト;

  5. 異常な電源異常テストおよび老化するテストのためのサポート;

  6. 自動化された温度調整のテストのためのサポート;

  7. ソフトウェアを使用してすべてのテストのインテリジェント制御のためのサポート;

  8. テスト ソフトウェアのカスタム化のためのサポート;

  9. 部屋の気流速度そして温度の同等化のためのサポート;

  10. 急速な温度の上昇および落下制御のためのサポート;

  11. SATAの老化のカスタマイズされた開発のためのサポート;

  12. ネットワーク制御のためのサポート、試験結果のテストそして見ることのオフサイト制御を許可する;

  13. APPのリモート・コントロール テストのためのサポート;


機械の主要なコンポーネント:

  1. 完全な試験制度はから成っている高低の温度の部屋、テストPCのマザーボード、土台板およびPM板、ESDテスト据え付け品、伝達データ ケーブル ケーブル、ESDは前後繊維のパネル、タッチ画面の作動のプラットホームの本体、カスタマイズされた密封のプラグ、ESDの前部PCのマザーボード立場、特別なテスト電源、FPGA板、等絶縁した。


主要なハードウェア:

  1. テストPCテスト マザーボード;
  2. 土台板板;
  3. 完全な機械回路および電力制御の部品;
  4. 帯電防止プロダクトのためのESDテスト据え付け品;
  5. ESD帯電防止前後絶縁繊維シート;
  6. 高く、低温抵抗のためのシリコーンのシール;
  7. ESD帯電防止前部コンピュータ マザーボード棚;
  8. 伝達データ ケーブル ケーブル;
  9. 特別なテスト電源;
  10. ギガビット スイッチ;
  11. コンソール ホスト。


ソフトウェアおよびハードウェア セクションの主要なコンポーネント:

  1. テストPC:マザーボード、CPU、HDD、ハード ディスクおよび電源を含んでセット1。テスト パソコン ハードウェアは次のPCT、ビット、MDTおよびFDSに従って主に形成される;
  2. コンソール:全体のテストPC操作を制御できたりテストのための制御インタフェース、テスト命令および構成原稿を送るのに使用されテストの司令部である一組の良質の接触PCのホスト;


SSD SATA理性的なハードウェアおよびソフトウェア統合試験制度の記述:

  1. PCIe SSDの理性的な試験制度はWin10オペレーティング システムのプラットホームに基づいている。開いた台本を書くモードによって、高く、低温部屋の温度およびPCIEプロダクトのテスト項目は自由に変更し1かちりと言う音操作、試験結果の労働、理性的なデータ管理そして永久的な保持を救うネットワーク制御を達成するためにデータはLinuxシステムおよび道の給油者を通して移すことができる。
  2. それはSSDPCIEの信頼性そして長期にわたる安定性、ハードウェア、ソフトウェアおよびメカニズムの設計のためにを含んで設計されている、目的は、可能ように、利用できるチャンネル テストをより適用範囲が広いもっと自動化されるテスト同様に作ることでテスト コンフィギュレーション品目 スペースを節約する。


システム特徴

  1. PCBAおよび据え付け品はたくさんのパソコン ボードへの複数の注文の部屋で収容される(部屋のサイズ、SSDの証明のための小さい部屋およびSSDの生産のための大きい部屋によって)。これはスペースを節約し、テストされるべき板の数を高める(多数セットは容易にセットアップすることができる)。
  2. 1枚のPCのマザーボードは6 SATA SSDsと同時に接続され、テストすることができSATA2.0およびSATA3.0タイプSSDsを支える。
  3. カスタマイズ可能なLinuxおよびWindowsテスト ソフトウェア、テスト内容は1つ以上の原稿ファイルによって形成することができる。さまざまな電源異常テスト、焼跡テスト、パワー消費量の点検テスト、等を支える。
  4. WindowsのPCはイーサネットによって複数の試験制度のPCに接続し部屋の温度を自動制御、多数テスト項目を行うのにWindowsの側面で編集する原稿が使用することができる。
  5. SSDのパワー消費量の測定および点検のためのサポート。
  6. UARTの港を通してテストの下で各SSDによって送られるすべてのメッセージを集めるサポートUART丸太機能(SSDの設計は特定のピン金指へのUART信号の関係を支えなければならない)。
  7. 注文のLinuxテスト ソフトウェアはUSBインターフェイスによって板に接続する。


力の循環テスト:

  1. このテストの主な目的はSPORがきちんと働いていることを確認することである。これは通常次の力テストを含んでいる。
  2. 結局SSDは命令を完了した書く、PCはスタンバイの即時指令を出し、次に動力を与える。これはNOPLPの帽子SSDsのために使用される。
  3. 結局SSDwrite命令は、PCすぐに動力を与えられる完了する。再度動力の後で、最後の電源異常の前に書かれているすべてのデータは比較されるべきである。
  4. (電源遮断のSPOR) writecommandがまだ進行中の間。再度動力の後で、最後の電源異常の前に書かれているすべてのデータは比較される必要がある。
  5. によって使用されるプログラム実行の糸は秒読みの糸とSSDを関連していない書く、従って任意電源遮断に保証される。
  6. パワー消費量 テスト。
  7. 読書の間のテスト パワー消費量は、力空腹なSSDsを選別するために書き、空転する。
  8. 性能試験。
  9. テストは異常なSSDsを選別するために性能を読み、書く。
  10. バーンイン テスト。
  11. Windows焼跡テストLBAモード テストに類似した、7つのパターンは利用できる。
4バイト、このLBAの住所
504バイトは、データ パターンを割り当てた
4バイト、タイムスタンプ

 

テストPCの記述:

  1. テストPCが主にSSDの電源切れ、多くの読み書き比較、完全なディスク読み書き、指定パターン、新しい不良ブロックの統計量との媒体の老化するテストをテストするのに使用され、プロトコル テスト、等テストPCTは次の部門に主に分けられる:PCT、ビット、MDTおよびFDS。
  2. PCT (力の循環テスト):さまざまなパターン異常な電源切れテスト、異常な電源切れの間にデータの完全性を確認するSSDのアルゴリズムの電源切れの処理および復元をテストする。
  3. かんだ(バーンイン テスト):さまざまなパターンが、および媒体のさまざまなパターンの影響連続的またはランダムに読まれたり/書かれていることを確認する。
  4. MDT (複数のドライブ テスト):SSDがATA1-8指定の命令を支え、SSDに支えられた命令を送り、確認したりそして結果がいいえ持っていないことを確認することを
  5. 結果はあらゆる問題のために確認される。
  6. FDS (完全なドライブ スキャン):完全なドライブ操作を書くため地図を描くテーブルが正しいことを確認するためにSSDで読み、;


テストPCは特徴を詳しく述べた:

  1. PCT力の循環テスト
  1. さまざまなパターンの構成;
  2. 読み書きデータ サイズの構成;
  3. 任意読み書き比較構成対順次;
  4. 正常なパワー データ保全対異常なパワーの証明;
  5. パワーアップおよびパワー時を制御する台本を書くこと;
  6. LBAsのためにデータ読み書き操作を指定すること;
  7. パワー処理および復元のためのテストSSDのアルゴリズム;
  8. テストUPSの安定性および容量性負荷要求の価値;
  9. ディスク ブーツの時間のテスト;
  10. プロダクトの力の管理機能の安定性のテスト;
  11. テスト ディスクのテストUPSの老化;
  12. 高低の温度ではんだ付けすることのための板レベルの電子部品のテスト;
  13. それを市場のSSDプロダクトの電源異常保護を確認するのに使用する可能性
  14. さまざまなマザーボードとのSSDの両立性の証明;
  15. トリムの証明;
  16. テスト丸太および規則的なアップロードの自動セービング;
  1. かまれたバーンイン テスト
  1. さまざまな木靴のための順次読み書き一致および性能の確認;
  2. さまざまなPattenのための任意読み書き比較そして性能の証明;
  3. 媒体のさまざまなパターンの影響の統計量;
  4. Pattenさまざまなプロダクトの老化するテスト;
  5. すべてのパターンの完全な、自動テスト;
  6. セクター計算およびパターンは台本を書くことができる;
  7. 読み書き比較の証明のテスト時間は置くことができる;
  8. テストの間の新しい不良ブロックのカウント;
  9. プロダクトの完全な機能性をテストするためにフレーム サイズを指定しなさい;
  10. 抜け目がないDDR間のデータ・パスの証明およびインターフェイス;
  11. SSDの任意読み書き性能の安定性の証明;
  12. 自動的にテスト丸太を救い、一定の間隔でアップロード;
  1. MDT多ドライブ テスト
  1. 構成可能セクター数;
  2. LBA28およびLBA48は構成可能である;
  3. プロダクトのインターフェイス議定書の両立性の証明;
  4. 議定書および統計量で指定される命令のための製品サポートの証明;
  5. プロダクトの関連したテストを行う命令を指定する可能性;
  6. データのデータ命令そして比較のための読み書き操作の証明;
  7. 非データ命令サポートの証明;
  8. テスト丸太および規則的なアップロードの自動セービング;
  1. FDS完全なドライブ スキャン
  1. 完全なディスク読書および操作をテーブルの地図を描くディスクの正しさを確認し、比較操作を行うために書くため;
  2. パターンおよびセクター数は構成可能である;
  3. 読み書き操作のための構成可能のタイミング;
  4. 不良ブロックおよび弱いブロックのための抜け目がないの選別;
  5. フラッシュのすべてのブロックに対するDDRの確認;
  6. テーブルの地図を描くSSDのアルゴリズムが正しいことを確認しなさい;
  7. テスト丸太および規則的なアップロードの自動セービング;


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